偏タングステン酸アンモニウムの不純物分析方法
AMTの不純物分析は品質管理において非常に重要であり、特に觸媒や電子材料などの高純度用途において不可欠です。AMTに含まれる一般的な不純物には、モリブデン(Mo)、鉄(Fe)、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、シリコン(Si) などの金屬および非金屬元素があり、これらの不純物は原料、製造プロセス、設備汚染などに由來する可能性があります。
主な分析方法
1. 誘導結合プラズマ質量分析(ICP-MS)
o 多種類の微量元素を同時に検出可能で、非常に高い感度(ppbレベル)を持つ
o 高純度AMTの微量不純物分析に適している
o 例：觸媒グレードAMTではMo含有量が0.01%未満である必要がある
2. 誘導結合プラズマ発光分光分析(ICP-OES)
o ppmレベルの金屬不純物検出に適している
o Fe、Na、Kなどの元素を迅速かつ正確に測定可能
3. 原子吸光分光分析(AAS)
o Fe、Naなどの特定元素を高精度に分析可能
o 炎またはグラファイト爐を用いて試料を原子化し、特定波長の吸光度を測定
4. X線蛍光分光分析(XRF)
o 非破壊分析技術であり、固體AMT試料の一般的な不純物分析に適している
o 主成分および副成分の不純物検出が可能
5. イオンクロマトグラフィー(IC)
o 水溶性陰イオン不純物(塩化物イオン、硫酸イオン、硝酸イオンなど)の分析に使用
o 高感度?高選択性を持ち、溶解性汚染物質を正確にモニタリング可能
6. 熱重量分析(TGA)
o 加熱過程で試料の質量変化を測定し、揮発性不純物や有機殘留物を検出
7. 紫外可視分光光度法(UV-Vis)
o 特定の不純物の吸収スペクトル特性を利用し、定量分析を実施
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